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纸张耐折度试验仪采用光电控制技术能使折叠夹头在每次实验后自动归位,方便了下次的操作。仪器具备强大的数据处理功能:能够统计同组多个试样的实验数据,能够统计出同组试样的Z大值、Z小值、平均值和变异系数,这些数据被存储在微电脑内,并能通过数码管显示。除此之外,仪器还具有打印功能。
耐折度试验仪采用光电控制技术能使折叠夹头在每次实验后自动归位,方便了下次的操作。仪器具备强大的数据处理功能:能够统计同组多个试样的实验数据,能够统计出同组试样的Z大值、Z小值、平均值和变异系数,这些数据被存储在微电脑内,并能通过数码管显示。除此之外,仪器还具有打印功能。
MIT纸张耐折度测定仪是根据我国国家标准GB/T2679.5《纸和纸板耐折度的测定》设计,是光机电体化结构,能够对被测试样的双折次数进行自动计数。
纸耐折度试验仪是根据我国国家标准GB/T2679.5《纸和纸板耐折度的测定》设计,是光机电体化结构,能够对被测试样的双折次数进行自动计数。
MIT式电子耐折度测试仪是根据我国国家标准GB/T2679.5《纸和纸板耐折度的测定》设计,是光机电体化结构,能够对被测试样的双折次数进行自动计数。
纸耐折度检测仪适用于抗张强度大于1.33KN/m,厚度小于0.25 mm纸张耐折度的测定。仪器结构参数和技术性能均符合QB/T457-2002《纸耐折度的测定法》等有关票准要求。
NZD-1肖伯尔式耐折度测定仪适用于抗张强度大于1.33KN/m,厚度小于0.25 mm纸张耐折度的测定。仪器结构参数和技术性能均符合QB/T457-2002《纸耐折度的测定法》等有关票准要求。
纸耐折度检测仪是根据标准GB/T2679.5-1995(纸和纸板耐折度的测定)设计,是光机电体化结构,能够对被测试样的双折次数进行自动计数。
耐折度测定仪是根据标准GB/T2679.5-1995(纸和纸板耐折度的测定)设计,是光机电体化结构,能够对被测试样的双折次数进行自动计数。